FA8失效分析探针台

z6尊龙（凯时中国）官方网站-智能数字化销售领航者 概要

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基本信息

应用方向

常温和高低温环境下的芯片失效分析、射频特性器件失效分析、材料/器件的IV/CV特性测试及失效分析、芯片内部线路/电极/PAD测试、IC/面板内部线路修改/去层

技术特点